資料成分剖析是資料剖析的一小氣面，普通資料剖析還包括資料結(jié)構(gòu)的測(cè)定、資料形貌的觀察，其中資料成分剖析主要是經(jīng)過各項(xiàng)檢測(cè)手腕對(duì)樣品的成分停止定性定量的剖析。資料成分剖析方法有很多，明天，微譜來引見關(guān)于資料成分剖析知識(shí)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)，希望對(duì)您有所協(xié)助。

資料成分剖析方法有哪些:

1、原子光譜法：原子光譜是原子吸收或收回光子的強(qiáng)度關(guān)于光子能量（通常以波長表示）的圖譜，可以提供關(guān)于樣品化學(xué)組成的相關(guān)信息。原子光譜分為三大類：原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜；

2、化學(xué)剖析法：應(yīng)用物質(zhì)化學(xué)反響為基礎(chǔ)的剖析方法，稱為化學(xué)剖析法。每種物質(zhì)都有其共同的化學(xué)特性，我們可以應(yīng)用物質(zhì)間的化學(xué)反響并將其以一種適當(dāng)?shù)姆绞酵Ｖ贡碚鳎靡灾甘痉错懙倪M(jìn)程，從而失掉資料中某些組分解分的含量；

3、電子能譜剖析法：電子能譜剖析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子遭到激起而發(fā)射出來，然后測(cè)量這些電子的強(qiáng)度與能量的散布，從而取得資料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，所以它僅僅是外表成分的反響；

4、X射線能量色散譜法（EDX）：EDX常與電子顯微鏡配合運(yùn)用，它是測(cè)量電子與試樣相互作用所發(fā)生的特征X射線的波長與強(qiáng)度，從而對(duì)龐大區(qū)域所含元素停止定性或定量剖析。

5、X射線衍射法（XRD）：XRD也可以輔佐用來停止物相的定量剖析。它的依據(jù)是，物相的衍射線強(qiáng)度隨著含量的添加而提高。

6、分光光度計(jì)法：分光光度計(jì)采用一個(gè)可以發(fā)生多個(gè)波長的光源，經(jīng)過系列分光裝置，從而發(fā)生特定波長的光源，光線透過測(cè)試的樣品后，局部光線被吸收，計(jì)算樣品的吸光值，從而轉(zhuǎn)化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計(jì)和紫外分光光度計(jì)；

7、質(zhì)譜法（MS）：它是將被測(cè)物質(zhì)離子化，按離子的質(zhì)荷比分別，測(cè)量各種離子譜峰的強(qiáng)度而完成剖析目的的一種剖析方法。質(zhì)量是物質(zhì)的固有特征之一，不同的物質(zhì)有不同的質(zhì)量譜（簡稱質(zhì)譜），應(yīng)用這一性質(zhì)，可以停止定性剖析；

資料成分剖析檢測(cè)機(jī)構(gòu):

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